服务项目
芯片分析与检测是整个芯片产业的基础设施。高质量的分析
检测服务能够极大的促进整个芯片产业更快、高质量的发展
A D V A N T A G E O U S T E C H N O L O G Y
/ 优 / 势 / 技 / 术 /
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SIMS元素分析
D-SIMS是目前拥有最优检测极限，且唯一定量的成分检测方法，对GaN外延片进行掺杂元素分析时D-SIMS的检测是刚需
开发出用于GaN的D-SIMS测试方法
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SCM扫描电容分析
SCM，即扫面电容显微镜，是可以确认芯片微小区域参杂形状及参杂情况的最新技术
开发出针对摄像头芯片的SCM测试能力，是能进行SCM量产的第三方实验室
符合CNAS标准
认证的第三方实验室
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公众号：洪启分析实验室
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